Cameca Instrumentasi Mikroanalitik dan Metrologi
PT Fajar Mas Murni sebagai perusahaan perdagangan terkenal tidak hanya menjual produk tetapi juga melayani jasa Service dan After Market Sales serta meyediakan suku cadang. PT FMM memiliki beberapa fasilitas seperti workshop untuk menunjang kegiatan sales dan aftermarket tersebut, tidak jarang pelanggan melakukan “Witness” ke kantor FMM untuk melihat fasilitas kerja PT Fajar Mas Murni dan melakukan test untuk produk yang akan dibeli.
CAMECA adalah pemasok terkemuka dunia untuk instrumentasi mikroanalitik dan metrologi pada penelitian dan kontrol proses. Instrumen mereka mengukur komposisi unsur dan isotop dalam bahan hingga resolusi atom, melengkapi laboratorium pemerintah dan universitas serta perusahaan industri teknologi tinggi di seluruh dunia.
Sejak didirikan pada tahun 1929, CAMECA telah terkenal dengan mekanika presisi, optik, dan elektroniknya. Perusahaan dimulai di Prancis sebagai produsen proyektor bioskop, sebelum berkembang pesat menjadi penyedia instrumentasi ilmiah untuk komunitas riset internasional dan solusi metrologi in-fab / near-fab pada industri manufaktur semikonduktor.
CAMECA memiliki lokasi penjualan & layanan di Brasil, Cina, Jerman, India, Jepang, Korea, Taiwan, AS, Indonesia dan jaringan agen yang luas. Memastikan tingkat dukungan terbaik untuk semua pengguna. Misi mereka adalah fokus pada pengembangan instrumental untuk menawarkan kinerja analitis tertinggi kepada pelanggan di bidang karakterisasi khusus.
PT Fajar Mas Murni dipercayai oleh CAMECA untuk menjadi agen penjualan produk mereka di Indonesia. Berikut kami akan sedikit mengulas seputar produk-produk CAMECA yang tersedia untuk menjadi pilihan dan rekomendasi kebutuhan Anda:
1. Low Energy Electron Induces X-Ray Emission Spectrometry (LEXES)
Low Energy Electron Induced X-Ray Emission Spectrometry (LEXES) terdiri dari sampel padat penyinaran oleh berkas elektron energi rendah dan menganalisis sinar-X lunak yang dipancarkan oleh target. Salah satu aplikasi utama teknik LEXES adalah pengukuran dosis kuantitatif yang cepat dari implan ultra-dangkal pada rentang dosis yang lebar, dengan atau tanpa anil.
2. 3D Atomic Probe Tomography (APT)
Atom Probe Tomography (APT atau 3D Atom Probe) adalah satu-satunya teknik analisis material yang menawarkan kemampuan ekstensif untuk pencitraan 3D dan pengukuran komposisi kimia pada skala atom (kedalaman sekitar 0,1-0,3nm dan resolusi 0,3-0, 5nm lateral). Sejak awal perkembangannya, Atom Probe Tomography telah berkontribusi pada kemajuan besar dalam ilmu material.
3. Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
Spektrometri Massa Ion Sekunder terdiri dari menganalisis ion-ion sekunder ini dengan spektrometer massa. Emisi ion sekunder oleh permukaan padat di bawah pengeboman ion memberikan informasi tentang komposisi unsur, isotop, dan molekuler dari lapisan atom paling atas. Teknik SIMS memberikan kombinasi unik dari sensitivitas yang sangat tinggi untuk semua elemen dari Hidrogen hingga Uranium dan di atasnya, pencitraan resolusi lateral yang tinggi, dan latar belakang yang sangat rendah yang memungkinkan rentang dinamis yang tinggi.
4. Electron Probe Micro Analyzer (EPMA)
EPMA adalah metode kualitatif dan kuantitatif sepenuhnya analisis unsur non-destruktif volume berukuran mikron di permukaan bahan, dengan sensitivitas pada tingkat ppm. Kuantifikasi rutin hingga 1% reproduktifitas diperoleh selama beberapa hari. Ini adalah teknik analisis mikro yang paling tepat dan akurat yang tersedia dan semua elemen dari B hingga U dan di atasnya dapat dianalisis.
Administrator System
