XLNCE SMX-BEN adalah penganalisis Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) tipe benchtop yang menyediakan pengukuran dan analisis komposisi serta ketebalan lapisan (coating) secara non-destruktif pada hampir semua jenis material. Alat ini merupakan pilihan yang sangat baik untuk R&D, pengembangan proses, pengendalian proses, dan analisis kegagalan. Alat ini memudahkan dan mempercepat pemilihan material serta formulasi resep pada tahap pra-produksi atau awal produksi, serta mendukung perangkat platform in-process hingga produksi kapasitas penuh.

• Menawarkan berbagai pilihan optik sinar-X dan filter primer
• Dilengkapi Silicon Drift Detector generasi terbaru
• Menyediakan solusi empiris dan fundamental parameters (FP) dengan proses kalibrasi yang mudah diatur
• Ruang analisis yang besar
• Pemosisian X-Y-Z yang dapat diprogram

Bidang aplikasi khusus:

• Manufaktur fotovoltaik
• Lapisan logam pelindung
• Metalisasi tingkat wafer dan mikroelektronika
• Analisis korosi/keausan dan thermal barrier