Hitachi FlexSEM1000 II
Product Description
Scanning Electron Microscope FlexSEM 1000 II dilengkapi sistem optik elektron dan deteksi sinyal yang baru dirancang, sehingga memberikan performa pencitraan dan analisis yang tak tertandingi dalam konfigurasi yang ramah laboratorium. Dengan mengutamakan efisiensi, FlexSEM memiliki desain yang adaptif, dapat dipisahkan, dan ringkas, sehingga dapat dipasang di ruang kantor, laboratorium, bahkan ruang bergerak yang terbatas. Dirancang untuk menarik bagi mikroskopis pemula maupun ahli dalam beragam aplikasi, termasuk spesimen biologis dan material canggih, mikroskop ini pasti akan memperluas analisis serta ekspektasi Anda.
Specification
| General Characteristic | |
|---|---|
| Magnification | 6x - 300,000x (on photo) 16x - 800,000x (on display) |
| Accelerating Voltage range | 0.3 - 20 kV |
| Electron Source | Pre-centered cartridge tungsten filame |
| Maximum sample size | 80 mm (in diameter) *option |
| SEM | |
| Resolution | 4.0 nm at 20 kV (SE; High Vacuum) 15.0 nm at 1 kV (SE, High Vacuum) 5.0 nm at 20 kV (BSE, Low Vacuum) |
| Image signal | Secondary electron (SE) Backscattered electron (BSE) Mix (BSE + SE) UVD-CL* STEM* *option |
| Vacuum mode | 6 - 100 Pa |
| Sample stage traverse | 3-axis motorized stage X : 0 - 50 mm Y : 0 - 40 mm Z : 5 - 33 mm T : -15 - 90° R : 360° |
| Maximum sample thickness | 40 mm |
| Signal detector | SE detector High sensitivity semiconductor BSE detector Ultra Variable-pressure Detector (UVD)* *option |
| Analysis system | Energy Dispersive X-ray Spectrometer (EDS)* *option |
Resources
| Scanning Electron Microscope FlexSEM1000II.pdf |
|---|
